高壓加速老化試驗(yàn)箱內(nèi)外箱均采用304不銹鋼板，圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì)，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。Jing密設(shè)計(jì)，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。自動(dòng)門禁，圓型門自動(dòng)溫度與壓力檢知An全門禁鎖定控制，門把設(shè)計(jì)，箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)。
試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu): 
1.圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可予防試驗(yàn)中結(jié)露滴水現(xiàn)象.  
2.精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次手動(dòng)加水可連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)1H;自動(dòng)加水可連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)999H;  
3.自動(dòng)門禁,圓型門自動(dòng)溫度與壓力安全檢知、門禁自動(dòng)鎖定控制系統(tǒng),采用安全門把設(shè)計(jì),內(nèi)箱有大于正常壓力時(shí)測(cè)試門會(huì)被反壓保護(hù)而打不開.保護(hù)操作人員安全。  
4.型packing,內(nèi)箱壓力愈大時(shí),packing會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式完全不同,可延長packing壽命.  
5.實(shí)驗(yàn)開始前之真空動(dòng)作可將原來內(nèi)箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing  ＜1micom.以確保箱內(nèi)之純凈度.  
6.保修期：機(jī)器全系統(tǒng)保固壹年(天災(zāi)或人為因素造成損壞不在此限),終身維護(hù).  
7.交貨期限:簽訂合同定金確定后3（現(xiàn)貨）個(gè)工作日.需方工廠交貨,我司提供免費(fèi)包裝、運(yùn)輸人員培訓(xùn)、安裝、調(diào)試等費(fèi)用.

試驗(yàn)箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（內(nèi)平均溫度≤28℃）
相對(duì)濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件 三相四線+保護(hù)地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動(dòng)范圍：（50±0.5）Hz
保護(hù)地線接地電阻小于4Ω

試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
1、內(nèi)外箱均采用304不銹鋼板，圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。
2、圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì)，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
3、設(shè)計(jì)可靠，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。
4、自動(dòng)門禁，圓型門自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設(shè)計(jì)，箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)。
5、型packing，箱內(nèi)壓力愈大時(shí)，packing會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式完全不同，可延長packing壽命。
6、實(shí)驗(yàn)開始前之真空動(dòng)作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。
7、臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。

試驗(yàn)箱性能：
1.溫度范圍:100℃~135℃可設(shè)定.
2.濕度范圍:RH.(飽和蒸氣濕度) 
3.壓力范圍:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue對(duì)壓力;(安全壓力容量3Kg/cm2/G=1個(gè)環(huán)大氣壓+2Kg/cm2)
4.時(shí)間范圍:0~1000H
5.溫度分布:(+/-)2.0℃%（100℃）
6.升溫時(shí)間:RT~121℃約35分鐘內(nèi)
7.加壓時(shí)間:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2約35分鐘內(nèi)
高壓加速老化試驗(yàn)箱詳細(xì)說明：
    隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC（國際電工會(huì)）所標(biāo)準(zhǔn)化。
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