振動試驗臺是根據(jù)載流導(dǎo)體在磁場中受力而發(fā)生運動的原理，采用的機械結(jié)構(gòu)和的工藝制作，主要特點為：磁路采用雙磁路強磁場結(jié)構(gòu)，動圈采用無骨架繞組，動圈支撐系統(tǒng)采用懸臂支架和空氣彈簧支撐，功放采用的開關(guān)放大電路，系統(tǒng)保護功能齊全，采用智能式控制，冷卻形式為強迫風冷。振動試驗臺各項技術(shù)指標均符合GB/T13310-91《電動振動臺技術(shù)條件》和企標Q/320502SN001-2007《DV、DC系列電動振動試驗系統(tǒng)》的要求。
振動試驗臺系統(tǒng)技術(shù)指標：
激振力：正弦：1960N（200kg.f）
頻率范圍：垂直臺：5Hz~4500Hz
額定加速度：980m/s2（100g）
額定速度：1.75m/s
額定位移：25mm（p-p）
大載荷：70kg
運動部件有效質(zhì)量：垂直臺：2kg
電源：3相4線380VAC10%50Hz
消耗功率：5.5kVA
連續(xù)工作時間：8h
工作環(huán)境：溫度0~40℃
濕度90%RH（25℃）
保護功能：本系統(tǒng)具有12種自動保護聯(lián)鎖功能。
電源：AC380V10%50Hz7kVA

振動試驗臺產(chǎn)品功能：  
1.調(diào)頻功能：在頻率范圍內(nèi)任意設(shè)定頻率。  
2.掃頻功能：（上限頻率/下限頻率/時間范圍）可任意設(shè)定。  
3.可程式功能：任意調(diào)整1~15段每段可任意設(shè)定（頻率/時間）可循環(huán)。  
4.對數(shù)功能：①下頻到上頻②上頻到下頻③下頻到上頻再到下頻--3種模式對數(shù)/可循環(huán)。  
5.倍頻功能：任意調(diào)整1~15段成倍數(shù)增加，①低頻到高頻②高頻到低頻③低頻到高頻再到低頻/可循環(huán)。  
6.顯示振幅加速度：如需看出振幅、加速度、大加速度、準確數(shù)值需另購測量儀（另購）。  
7.全功能電腦控制：485通訊接口如要連接電腦做控制、儲存、記錄、打印之功能需另購介面卡程式電腦（另購）。  注：定頻50HZ的無調(diào)頻、掃頻、可程式、倍頻、對數(shù)功能。

振動試驗臺特點
1、數(shù)字顯示振動頻率；
2、同步靜噪皮帶傳動，噪聲及低；
3、試件夾裝采用導(dǎo)軌式，操作方便，；
4、機臺底座采用重型槽鋼配減振膠墊，安裝方便，運行平穩(wěn)；
5、回轉(zhuǎn)式振動（俗稱跑馬臺）符合及國際運輸標準；

振動試驗臺主要參數(shù)：
1.型號：ES-3; 
2.動轉(zhuǎn)速度：60-300RPM（轉(zhuǎn)/分鐘）可調(diào); 
3.速度顯示精度：1RPM(轉(zhuǎn)/分鐘); 
4.振動方式：往復(fù)式; 
5.振幅（P-P）：25.4mm(英寸); 
6.載重：70kg; 
7.有效臺面：1.2*1.1m（長*寬）; 
8.時間設(shè)定范圍：0seconds秒~99hour小時; 
9.電機功率：1HP; 
10.調(diào)速方式：直流調(diào)速; 
11.總重230KG; 
12.電源：220V50Hz
振動試驗臺是用于在實驗室內(nèi)模擬真實振動環(huán)境效應(yīng)的試驗設(shè)備，振動試驗是在振動臺上采用不同的輸入信號激勵樣品。振動試驗主要分為正弦和隨機振動，由于兩者的物理過程不同，在兩者之間沒有嚴格的等效關(guān)系，所以在選擇試驗方式時，切勿進行正弦到隨機的嚴酷度等級轉(zhuǎn)換。
正弦振動試驗使用固定或變化的頻率和幅值的正弦信號，在每一瞬間時僅施加一個頻率，試驗條件包括頻率范圍或固定頻率、振幅和試驗持續(xù)時間。
真實環(huán)境中正弦振動很少一單一頻率的振動形式立出現(xiàn)。即使在旋轉(zhuǎn)的機械上直接測量加速度時也是這樣。如齒輪和軸承，實際存在的公差和間隙，通常導(dǎo)致在頻率上有微小的變化。旋轉(zhuǎn)機械的隨機特性也會發(fā)生某種形式的隨機振動。
正弦振動可以描述為確定性運動，遵循確定的規(guī)律，完全可以從過去的狀態(tài)來確定未來任意時間的狀態(tài)。在進行正弦掃頻試驗過程中，改方法通常用來確定出現(xiàn)失效的時刻，因為這個失效很可能是和特定頻率密切相關(guān)的，而用隨機振動試驗試驗方法這種相關(guān)效果不是很明顯。當然，相對于隨機試驗方法，正弦試驗方法通常需要用更長的時間激發(fā)出失效，這是因為每次掃頻過程中，在每個共振點上只作用很短的時間。盡管在任一時刻只施加一個頻率，如果掃頻速率足夠慢，確實可以使得樣品的特定共振峰達到大。也可以用來發(fā)現(xiàn)潛在的破壞性共振點，尤其是在設(shè)計和研制試驗中。
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